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BS EN 1074-6-2004 供水用阀门.目的要求和适当检定试验的合理性.给水栓

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 14:56:53  浏览:9908   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Valvesforwatersupply-Fitnessforpurposerequirementsandappropriateverificationtests-Hydrants
【原文标准名称】:供水用阀门.目的要求和适当检定试验的合理性.给水栓
【标准号】:BSEN1074-6-2004
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2004-02-05
【实施或试行日期】:2004-02-05
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:输水管道配件;材料;配水;给水栓;控制阀和配件;密封性;工业配件;压力;规范(验收);阀门;地板上给水栓;水;水车;耐久性;材料强度;给水;定义;地板下的消防栓;试验;适用性
【英文主题词】:Controlvalvesandfittings;Definition;Definitions;Durability;Fitnessforpurpose;Hydrants;Industrialfittings;Materials;Onfloorhydrant;Pressure;Specification(approval);Strengthofmaterials;Testing;Tightness;Underfloorhydrant;Valves;Water;Watercarriage;Waterdistribution;Waterfittings;Watersupply
【摘要】:ThisEuropeanStandarddefinestheminimumfitnessforpurposerequirementsforhydrantstobeusedin,orconnectedto,watersupplypipesystems,aboveorbelowground(seeEN805),carryingwaterintendedforhumanconsumption.Thisstandardspecifiesthedesignrequirements,theperformancerequirements,andtheconformityassessmentmethodforhydrants,whatevertheirtype,materialsandfunctions.Wherehydrantscanbeusedforfirefighting,irrigationorotherfunction,additionalrequirementscanbegiveninotherstandards(e.g.prEN14339:2001).Thisstandardappliesinprioritytoanyotherproductorteststandard.TherequirementsfromotherstandardsapplyonlywhenthisEuropeanStandardreferstothem.ThispartofEN1074dealswiththerequirementsapplicabletobothundergroundandpillarhydrants,insizesDN65toDN150,andPFAupto16bar.ThispartofEN1074doesnotgiverequirementsfortheoutletsortheirinterfacewiththehydrants,sincetheyaresubjecttonationalstandards.
【中国标准分类号】:J16
【国际标准分类号】:23_060_99
【页数】:22P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
英文名称:Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-10
实施日期:2011-10-01
首发日期:2011-01-10
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、中国计量科学研究院、万向硅峰电子有限公司、广州昆德科技有限公司、洛阳单晶硅有限责任公司
起草人:曹孜、孙燕、黄黎、高英、石宇、楼春兰、王世进、张静雯
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-10-01
页数:28页
适用范围

本方法适用于测量均匀掺杂、经过抛光处理的n型或p型硅片的载流子复合寿命。本方法是非破坏性、无接触测量。在电导率检测系统的灵敏度足够的条件下,本方法也可应用于测试切割或者经过研磨、腐蚀硅片的载流子复合寿命。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 检测方法概述 2 5 干扰因素 3 6 设备 4 7 试剂 5 8 取样及样片制备 5 9 测试步骤 7 10 报告 8 11 精密度和偏差 8 附录A (规范性附录) 注入水平的修正 9 附录B(资料性附录) 注入水平的相关探讨 10 附录C (资料性附录) 载流子复合寿命与温度的关系 13 附录D (资料性附录) 少数载流子复合寿命 16 附录E (资料性附录) 测试方法目的和精密度 19 参考文献 20

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针测量方法
GB/T1553—2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T11446.1 电子级水
GB/T13389 掺硼、掺磷硅单晶电阻率与掺杂浓度换算规则
GB/T14264 半导体材料术语
YS/T679—2008 非本征半导体少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
SEMIMF978 瞬态电容技术测量半导体深能级的测试方法
SEMIMF1388 金属-氧化物-硅(MOS)电容的电容-时间关系测量硅材料产生寿命和产生速率的测试方法
SEMIMF1530 自动无接触扫描测量硅片平整度、厚度和厚度变化的测试方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:Plasticspipingsystemswithstructuredwallpipesforsoilandwastedischarge(lowandhightemperature)insidebuildings.Unplasticizedpoly(vinylchloride)(PVC-U).Guidancefortheassessmentofconformity
【原文标准名称】:建筑物内的粪水和废物排放用的带结构壁管道的塑料管道系统(低温和高温).非增塑聚氯乙烯.一致性评价指南
【标准号】:DDENV1453-2-2001
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2001-04-15
【实施或试行日期】:2001-04-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:未增塑聚氯乙烯;质量保证体系;合格;给水和废物排放系统(建筑);废水排水;聚氯乙烯;塑料管道;质量;排水;管;热塑性聚合物;管道工程系统;塑料
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:P42
【国际标准分类号】:23_040_01;91_140_80
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语